氦質(zhì)譜檢測資質(zhì)

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2024-10-11 09:31:17
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內(nèi)容摘要：氦質(zhì)譜檢測資質(zhì)概述氦質(zhì)譜檢測資質(zhì)是指從事氦質(zhì)譜檢漏工作的機構(gòu)或個人所需要具備的資格認證，以證明其具備相應(yīng)的專業(yè)知識、技能和能力，能...

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氦質(zhì)譜檢測資質(zhì)概述

氦質(zhì)譜檢測資質(zhì)是指從事氦質(zhì)譜檢漏工作的機構(gòu)或個人所需要具備的資格認證，以證明其具備相應(yīng)的專業(yè)知識、技能和能力，能夠準確、可靠地進行氦質(zhì)譜檢漏操作，并保證檢測結(jié)果的準確性和可靠性。

氦質(zhì)譜檢測的方法

真空法：需要利用輔助真空泵或檢漏儀對被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封室抽真空，采用氦罩或噴吹的方法在被檢產(chǎn)品外表面施氦氣。按照施漏氣體方法的不同，又可以分為真空噴吹法和真空氦罩法。真空噴吹法采用噴槍向被檢產(chǎn)品外表面噴吹氦氣，可實現(xiàn)漏孔精確定位；真空氦罩法采用有一定密閉功能的氦罩將被檢產(chǎn)品全部罩起來，在罩內(nèi)充滿一定濃度的氦氣，可實現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率的測量。
- 優(yōu)點：檢測靈敏度高，可精確定位，能實現(xiàn)大容器或復(fù)雜結(jié)構(gòu)產(chǎn)品的檢漏。
- 缺點：只能實現(xiàn)一個大氣壓差的漏率檢測，不能準確反映帶壓被檢產(chǎn)品的真實泄漏狀態(tài)。
- 檢測標準：主要有 QJ3123-2000《氦質(zhì)譜真空檢漏方法》、GB /T 15823-2009《氦泄漏檢驗》。
- 應(yīng)用范圍：主要應(yīng)用于真空密封性能要求，但不帶壓工作的產(chǎn)品，如空間活動部件、液氫槽車、環(huán)境模擬設(shè)備等。
正壓法：需對被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封室充入高于一個大氣壓力的氦氣，當(dāng)被檢產(chǎn)品表面有漏孔時，氦氣會通過漏孔進入被檢外表面的周圍大氣環(huán)境中，再采用吸槍的方式檢測被檢產(chǎn)品周圍大氣環(huán)境中的氦氣濃度增量，從而實現(xiàn)被檢產(chǎn)品泄漏測量。按照收集氦氣方式的不同，又可以分為正壓吸槍法和正壓累積法。正壓吸槍法采用檢漏儀吸槍對被檢產(chǎn)品外表面進行掃描探查，可實現(xiàn)漏孔精確定位；正壓累積法采用有一定密閉功能的氦罩將被檢產(chǎn)品全部罩起來，采用檢漏儀吸槍測量一定時間段前后的氦罩內(nèi)氦氣濃度變化量，實現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率的精確測量。
- 優(yōu)點：不需要輔助的真空系統(tǒng)，可精確定位，實現(xiàn)任何工作壓力下的檢測。
- 缺點：檢測靈敏度較低，檢測結(jié)果不確定度大，受測量環(huán)境條件影響大。
- 檢測標準：主要有 QJ3089-1999《氦質(zhì)譜正壓檢漏方法》、QJ2862-1996《壓力容器焊縫氦質(zhì)譜吸槍罩盒檢漏試驗方法》。
- 應(yīng)用范圍：主要應(yīng)用于大容積高壓密閉容器產(chǎn)品的檢漏，如高壓氦氣瓶、艙門檢漏儀等。
真空壓力法：需要將被檢產(chǎn)品整體放入真空密封室內(nèi)，真空密封室與輔助抽空系統(tǒng)和檢漏儀相連，被檢產(chǎn)品的充氣接口通過連接管道引出真空密封室后，再與氦氣源相連，當(dāng)被檢產(chǎn)品表面有漏孔時，氦氣就會通過漏孔進入真空密封室，再進入氦質(zhì)譜檢漏儀，從而實現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率的測量。
- 優(yōu)點：檢測靈敏度高，能實現(xiàn)任何工作壓力的漏率檢測，反映被檢件的真實泄漏狀態(tài)。
- 缺點：檢漏系統(tǒng)復(fù)雜，需要根據(jù)被檢產(chǎn)品的容積和形狀設(shè)計真空密封室。
- 檢測標準：GB /T 15823-2009《氦泄漏檢驗》。
- 應(yīng)用范圍：主要應(yīng)用于結(jié)構(gòu)簡單、壓力不是特別高的密封產(chǎn)品，如電磁閥、高壓充氣管道、推進劑貯箱、天線、應(yīng)答機、整星產(chǎn)品等。
背壓法：浸泡數(shù)小時或數(shù)天，如果被檢產(chǎn)品表面有漏孔，氦氣便通過漏孔壓入被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封腔中，使內(nèi)部密封腔中氦分壓力上升。然后取出被檢產(chǎn)品，將表面的殘余氦氣吹除后再將被檢產(chǎn)品放入與檢漏儀相連的真空容器內(nèi)，被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封腔內(nèi)的氦氣會通過漏孔泄漏到真空容器，再進入氦質(zhì)譜檢漏儀，從而實現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率測量。檢漏儀給出的漏率值為測量漏率，需要通過換算公式計算出被檢產(chǎn)品的等效標準漏率。
- 優(yōu)點：檢測靈敏度高，能實現(xiàn)小型密封容器產(chǎn)品的泄漏檢測，可以進行批量化檢測。
- 缺點：不能進行大型密封容器的漏，否則由于密封腔體容積太大，導(dǎo)致加壓時間太長。每個測量漏率都對應(yīng)兩個等效標準漏率，在細檢完成后還需要采用其它方法進行粗檢，排除大漏的可能。
- 檢測標準：主要有 QJ3212-2005《氦質(zhì)譜背壓檢漏方法》、GJB360A-1996《電子及電氣元件試驗方法方法112 密封試驗》。
- 應(yīng)用范圍：主要應(yīng)用于各種電子元器件產(chǎn)品檢漏。

氦質(zhì)譜檢測的原理

氦質(zhì)譜檢漏法是利用氦質(zhì)譜檢漏儀的氦分壓力測量原理，實現(xiàn)被檢件的氦泄漏量測量。當(dāng)被檢件密封面上存在漏孔時，示漏氣體氦氣及其它成分的氣體均會從漏孔泄出，泄漏出來的氣體進入氦質(zhì)譜檢漏儀后，由于氦質(zhì)譜檢漏儀的選擇性識別能力，僅給出氣體中的氦氣分壓力信號值。在獲得氦氣信號值的基礎(chǔ)上，通過標準漏孔比對的方法就可以獲得漏孔對氦泄漏量。

氦質(zhì)譜檢測的優(yōu)點

精度高：可以達到 5E-12 mbarL/s 甚至更高的精度，可通過標準漏孔進行計量，并且重復(fù)性非常好。
快速：能夠盡快定位并修復(fù)漏點，節(jié)省時間并減少報廢。
可定位漏點：噴氦法、吸槍法等常見的氦質(zhì)譜檢漏方法可以確定泄漏的位置，便于后期處理漏孔或改進工藝。
不受溫度、產(chǎn)品形變、內(nèi)表面放氣等的影響，不會弄濕或污染工件。

氦氣作為示蹤氣體的原因

氦氣在環(huán)境空氣中含量極少（5ppm），環(huán)境本底比較低。
氦氣分子很小，并且擴散很快，可以縮短檢測器響應(yīng)泄漏的時間。
氦氣容易獲取，無毒、不易燃并且屬于惰性氣體。

氦質(zhì)譜檢測資質(zhì)的重要性

擁有氦質(zhì)譜檢測資質(zhì)意味著能夠遵循嚴格的標準和規(guī)范進行操作，確保檢測結(jié)果的準確性和可靠性，從而保障相關(guān)產(chǎn)品或設(shè)備的質(zhì)量和安全性。同時，這也是在相關(guān)領(lǐng)域開展業(yè)務(wù)、獲得客戶信任的重要憑證。

補充信息

氦質(zhì)譜檢漏儀的分類與結(jié)構(gòu)

氦質(zhì)譜檢漏儀有多種分類方式，根據(jù)不同的結(jié)構(gòu)和功能特點，可以分為不同的類型。其結(jié)構(gòu)通常包括高真空系統(tǒng)、質(zhì)譜室、離子源、加速電場、磁場、收集極等部分。

氦質(zhì)譜檢漏儀的工作原理

外界的氣體進入到檢漏儀質(zhì)譜室后，產(chǎn)生離子。氣體離子被加速后進入磁場，其路徑會被偏轉(zhuǎn)，由于不同的離子荷質(zhì)比不同，偏轉(zhuǎn)半徑也不同。在合適的地方設(shè)置一個狹縫，就可以僅讓示蹤氣體——氦氣的離子通過并到達收集極。收集極得到的離子流信號和進入檢漏儀的氦氣量多少，即泄露率的大小成正比。通過測量該信號，就可以測量泄漏率。